穩(wěn)科高頻 LCR表 阻抗分析儀系列●七種機型且最高可升級到 120MHz

    1J6505P    頻率范圍 20Hz ~ 5MHz

    1J6510P    頻率范圍 20Hz ~ 10MHz

    1J6515P    頻率范圍 20Hz ~ 15MHz

    1J6520P    頻率范圍 20Hz ~ 20MHz

    1J6530P    頻率范圍 20Hz ~ 30MHz

    1J6550P    頻率范圍 20Hz ~ 50MHz

    1J65120P  頻率范圍 20Hz ~ 120MHz

• 0.05%基本精確度，頻率分辨率≤1mHz

• 簡易的TFT觸屏操作，10分鐘內(nèi)輕易上手 

• 電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測試解決方案
• ＜30 mS 自動化測量可結(jié)合測包機測試
• 高頻四線式技術(shù)，可測量極低Rs、等效Rdc和高Q值
• 內(nèi)置交流信號：10mV ~ 1Vrms，200μA~20mArms。直流內(nèi)置偏置信號：0~ 100mA/0~ +40V或-40V~ +40V（選配）。可外加WK6565高頻直流偏置電流源到40Amp

• 四種模式統(tǒng)一操作界面，Hander連接自動化分選設(shè)備，LAN、GPIB電腦聯(lián)機軟件通信接口

• 可使用鼠標(biāo)及鍵盤操作，也可外接列表打印機及使用U盤保存數(shù)據(jù)，測試圖像

• 英國設(shè)計，接受軟硬件升級及定制化需求

●穩(wěn)科高頻 LCR表 阻抗分析儀系列測試參數(shù):

電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 損耗因數(shù)(D), 品質(zhì)因數(shù)(Q), 阻抗(Z), 導(dǎo)納(Y), 相位角(θ)、介電常數(shù)（ε′ 相對介電常數(shù)實部、ε′′r相對介電常數(shù)虛部、Dε相對介電損耗）、磁導(dǎo)率（μ ′ 相對磁導(dǎo)率實部、μ′′r 相對磁導(dǎo)率虛部、Dμ相對磁導(dǎo)率損耗）